<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
  <title>DSpace Collection:</title>
  <link rel="alternate" href="http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/2774" />
  <subtitle />
  <id>http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/2774</id>
  <updated>2026-04-12T08:39:55Z</updated>
  <dc:date>2026-04-12T08:39:55Z</dc:date>
  <entry>
    <title>Контроль аеродинамічних характеристик лопатей осьового компресора газоперекачувального агрегату тривалої експлуатації</title>
    <link rel="alternate" href="http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3765" />
    <author>
      <name>Олійник, А. П.</name>
    </author>
    <id>http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3765</id>
    <updated>2017-03-29T00:00:40Z</updated>
    <published>2011-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Title: Контроль аеродинамічних характеристик лопатей осьового компресора газоперекачувального агрегату тривалої експлуатації
Authors: Олійник, А. П.
Abstract: Проаналізовано результати розрахунків аеродинамічних характеристик еліптичних профілів за&#xD;
розробленою методикою на основі інтегрального рівняння Фредгольма другого роду, встановлено&#xD;
особливості процесу обтікання при різних значеннях кута атаки та параметрів еліпса. Розглянуто&#xD;
особливості відтворення профілю за експериментально визначеними координатами певної&#xD;
множини точок.; Проанализированы результаты расчетов аэродинамических характеристик эллиптических&#xD;
профилей по предложенной методике на основе интегрального уравнения Фредгольма второго&#xD;
рода, установлены особенности процесса обтекания при разных значениях угла атаки и&#xD;
параметров эллипса. Рассмотрены особенности восстановления профиля по экспериментально&#xD;
определенным координатам определенного множества точек.; The elliptical profile aerodynamic characteristics calculations results using the method based on the&#xD;
second kind Fredholm integral equation is studied, the flowing process features taking to consideration the&#xD;
different angle of attack and the ellipse parameters are grounded. The different aspects of the profile&#xD;
reconstructions using the experimental defined data of the point’s coordinates set are considered.</summary>
    <dc:date>2011-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Аналітичне дослідження електричного опору мікроелектродів конічної форми</title>
    <link rel="alternate" href="http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3760" />
    <author>
      <name>Маковійчук, М. В.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Остапович, В. В.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Роп'як, Л. Я.</name>
    </author>
    <id>http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3760</id>
    <updated>2017-03-29T00:00:39Z</updated>
    <published>2011-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Title: Аналітичне дослідження електричного опору мікроелектродів конічної форми
Authors: Маковійчук, М. В.; Остапович, В. В.; Роп'як, Л. Я.
Abstract: Отримано аналітичні залежності, які дозволяють визначати електричний опір мікроелектродів&#xD;
конічної форми у таких варіантах виконання: конус зрізаний площиною перпендикулярно до осі та&#xD;
під кутом. Встановлено, що мікроелектрод з косим зрізом має менший електричний опір у&#xD;
порівнянні з традиційним. Показано, що величина різниці опорів досліджуваних форм&#xD;
мікроелектродів із збільшенням величини нижнього радіуса зменшується, а при зростанні кута&#xD;
заточування збільшується.; Получено аналитические зависимости, которые позволяют определять электрическое&#xD;
сопротивление микроэлектродов конической формы у таких вариантах исполнения: конус&#xD;
срезанный плоскостью перпендикулярной к его оси и под углом. Установлено, что микроэлектрод с&#xD;
косым срезом имеет меньшее электрическое сопротивление в сравнении с традиционным.&#xD;
Показано, что величина разности сопротивлений исследуемых форм микроэлектродов с ростом&#xD;
величини нижнего радиуса уменьшается, а при возрастании угла заточки увеличивается.; The analytical dependences which allow to determine the electrical resistance of the microelectrodes&#xD;
conical shape have been obtained in these variants of designs: a cone with plane cut perpendicular to its&#xD;
axis and a cone with a slanting cut. It is established that the microelectrode with a slanting cut has less&#xD;
electrical resistance by comparison to traditional one. It is shown that the difference of resistances between&#xD;
the studied forms of microelectrodes diminishes with growth of the lower radius, and increases with growth&#xD;
of the angle of sharpening.</summary>
    <dc:date>2011-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Маніпуляційні системи вимірювального робота</title>
    <link rel="alternate" href="http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3757" />
    <author>
      <name>Лещенко, Ю. П.</name>
    </author>
    <id>http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3757</id>
    <updated>2017-03-29T00:00:27Z</updated>
    <published>2011-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Title: Маніпуляційні системи вимірювального робота
Authors: Лещенко, Ю. П.
Abstract: Наведено опис маніпуляційних систем вимірювальних роботів, розглянуто ступені рухомості&#xD;
маніпулятора, їх мінімально необхідне число. Описано маніпулятор з прямокутною, сферичною,&#xD;
циліндричною та кутовою системами координат.; Приведено описание манипуляционных систем измерительных роботов, рассмотрены степени&#xD;
подвижности манипулятора, их минимально необходимое число. Описаны манипулятор с&#xD;
прямоугольной, сферической, цилиндрической и угловой системами координат; The description of the measuring robot manipulation systems are considered manipulator degrees of&#xD;
mobility, their minimum required number. Manipulator is described with the rectangular, spherical,&#xD;
cylindrical and angular coordinates.</summary>
    <dc:date>2011-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Метод вимірювання термоелектричної добротності напівпровідникових матеріалів</title>
    <link rel="alternate" href="http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3754" />
    <author>
      <name>Галущак, М. О.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Фреїк, Д. М.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Карпаш, М. О.</name>
    </author>
    <author>
      <name>Ткачук, А. І.</name>
    </author>
    <id>http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3754</id>
    <updated>2017-03-29T00:00:32Z</updated>
    <published>2011-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Title: Метод вимірювання термоелектричної добротності напівпровідникових матеріалів
Authors: Галущак, М. О.; Фреїк, Д. М.; Карпаш, М. О.; Ткачук, А. І.
Abstract: Проведено аналіз різноманітних методів вимірювання термоелектричних параметрів&#xD;
напівпровідників. Запропоновано новий підхід для визначення термоелектричної добротності&#xD;
напівпровідникового матеріалу в широкому інтервалі температур (300÷1000)К шляхом&#xD;
безпосереднього вимірювання ряду параметрів електричного кола, до складу якого входить&#xD;
спеціальна вимірювальна комірка. Детально описано теорію методу, застосування її у методиці&#xD;
вимірювань та зроблено оцінку похибки експерименту; Проведен анализ различных методов измерения термоэлектрических параметров полупроводников.&#xD;
Предложен новый подходом к определение термоэлектрической добротности полупроводникового&#xD;
материала в широком интервале температур (300 ÷ 1000) К путем непосредственного измерения&#xD;
ряда параметров электрической цепи, в состав которого входит специальная измерительная&#xD;
ячейка. Подробно описано теорию метода, применение ее в методике измерений и произведена&#xD;
оценка погрешности эксперимента.; Analysis of various methods for measurement of semiconductors’ thermo-electrical properties is done. New&#xD;
approach for determination of thermoelectrical figure of merit of semiconductor materials in wide range of&#xD;
temperatures (from 300 to 1000 K) is proposed using direct measurement of electrical circuit parameters&#xD;
which includes special measurement cell. The theoretical background of the method, its application in&#xD;
measurement technique is described in detail as well as experimental accuracy assessment is done.</summary>
    <dc:date>2011-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
</feed>

