http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1638| Title: | Неруйнівний контроль структурних дефектів у вихідних та опромінених реакторними нейтронами фосфідо-галієвих світлодіодах |
| Authors: | Конорева, О. В. Опилат, В. Я. Пінковська, М. Б. Попов, В. Ю. Решетнік, М. С. Тартачник, В. П. |
| Issue Date: | 2006 |
| Publisher: | ІФНТУНГ |
| Citation: | Неруйнівний контроль структурних дефектів у вихідних та опромінених реакторними нейтронами фосфідо-галієвих світлодіодах / О. В. Конорева, В. Я. Опилат, М. Б. Пінковська [та ін.] // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - № 17. - С. 24-27. |
| Abstract: | Встановлено, що для червоних світлодіодів характерним є різкий розподіл домішок в межах р-n переходу, у зелених переважно лінійний, У досліджуваних структурах формується два механізми пробою: тунельний та лавинний. Опромінення швидкими нейтронами реактора (Есер = 2 МеВ) спричиняє зростання імовірності тунельного пробою в зелених діодах, лавинного - у червоних. |
| URI: | http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1638 |
| Appears in Collections: | Методи та прилади контролю якості - 2006 - №17 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.