http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1638| Название: | Неруйнівний контроль структурних дефектів у вихідних та опромінених реакторними нейтронами фосфідо-галієвих світлодіодах |
| Авторы: | Конорева, О. В. Опилат, В. Я. Пінковська, М. Б. Попов, В. Ю. Решетнік, М. С. Тартачник, В. П. |
| Дата публикации: | 2006 |
| Издательство: | ІФНТУНГ |
| Библиографическое описание: | Неруйнівний контроль структурних дефектів у вихідних та опромінених реакторними нейтронами фосфідо-галієвих світлодіодах / О. В. Конорева, В. Я. Опилат, М. Б. Пінковська [та ін.] // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - № 17. - С. 24-27. |
| Краткий осмотр (реферат): | Встановлено, що для червоних світлодіодів характерним є різкий розподіл домішок в межах р-n переходу, у зелених переважно лінійний, У досліджуваних структурах формується два механізми пробою: тунельний та лавинний. Опромінення швидкими нейтронами реактора (Есер = 2 МеВ) спричиняє зростання імовірності тунельного пробою в зелених діодах, лавинного - у червоних. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1638 |
| Располагается в коллекциях: | Методи та прилади контролю якості - 2006 - №17 |
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2165p.pdf | 5.57 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.