Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1640
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorОпилат, В. Я.-
dc.contributor.authorТартачник, В. П.-
dc.contributor.authorХудецький, М. В.-
dc.contributor.authorМакота, Ю. А.-
dc.date.accessioned2016-09-16T10:24:38Z-
dc.date.available2016-09-16T10:24:38Z-
dc.date.issued2006-
dc.identifier.citationНеруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах / В. Я. Опилат, В. П. Тартачник, М. В. Худецький, Ю. А. Макота // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - № 17. - С. 28-30.uk_UA
dc.identifier.urihttp://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1640-
dc.description.abstractОписано деградаційно - релаксаційні процеси у світлодіодах GаР, зумовлені ультразвуковою обробкою. Виявлено ефект оборотності деградаційного процесу. В основі досліджуваного явища лежить формування нестабільних дислокаційних сіток. Метод ультразвукової обробки може бути застосований з метою виявлення мікродефектів структури у напівпровідникових приладах.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherІФНТУНГuk_UA
dc.titleНеруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодахuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Методи та прилади контролю якості - 2006 - №17

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2166p.pdf389.27 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record   Google Scholar


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.