Skip navigation
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1640
Назва: Неруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах
Автори: Опилат, В. Я.
Тартачник, В. П.
Худецький, М. В.
Макота, Ю. А.
Дата публікації: 2006
Видавництво: ІФНТУНГ
Бібліографічний опис: Неруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах / В. Я. Опилат, В. П. Тартачник, М. В. Худецький, Ю. А. Макота // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - № 17. - С. 28-30.
Короткий огляд (реферат): Описано деградаційно - релаксаційні процеси у світлодіодах GаР, зумовлені ультразвуковою обробкою. Виявлено ефект оборотності деградаційного процесу. В основі досліджуваного явища лежить формування нестабільних дислокаційних сіток. Метод ультразвукової обробки може бути застосований з метою виявлення мікродефектів структури у напівпровідникових приладах.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1640
Розташовується у зібраннях:Методи та прилади контролю якості - 2006 - №17

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
2166p.pdf389.27 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики  Google Scholar


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.