Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1640
Title: Неруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах
Authors: Опилат, В. Я.
Тартачник, В. П.
Худецький, М. В.
Макота, Ю. А.
Issue Date: 2006
Publisher: ІФНТУНГ
Citation: Неруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах / В. Я. Опилат, В. П. Тартачник, М. В. Худецький, Ю. А. Макота // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - № 17. - С. 28-30.
Abstract: Описано деградаційно - релаксаційні процеси у світлодіодах GаР, зумовлені ультразвуковою обробкою. Виявлено ефект оборотності деградаційного процесу. В основі досліджуваного явища лежить формування нестабільних дислокаційних сіток. Метод ультразвукової обробки може бути застосований з метою виявлення мікродефектів структури у напівпровідникових приладах.
URI: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1640
Appears in Collections:Методи та прилади контролю якості - 2006 - №17

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2166p.pdf389.27 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record   Google Scholar


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.