| Переглядів | |
|---|---|
| Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів | 387 |
| березня 2026 | квітня 2026 | травня 2026 | червня 2026 | липня 2026 | серпня 2026 | вересня 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів | 8 | 9 | 7 | 15 | 7 | 15 | 11 |
| Переглядів | |
|---|---|
| 881p.pdf | 143 |
| Переглядів | |
|---|---|
| United States | 217 |
| China | 40 |
| Germany | 21 |
| Україна | 16 |
| Sweden | 12 |
| Japan | 8 |
| Vietnam | 8 |
| Brazil | 6 |
| United Kingdom | 6 |
| Iran | 4 |
| Переглядів | |
|---|---|
| San Mateo | 26 |
| Ann Arbor | 16 |
| Fairfield | 13 |
| Louisville | 11 |
| Ashburn | 10 |
| Dublin | 10 |
| Redwood City | 10 |
| San Francisco | 10 |
| Tokyo | 8 |
| Beijing | 7 |