| Переглядів | |
|---|---|
| Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів | 338 |
| листопада 2025 | грудня 2025 | січня 2026 | лютого 2026 | березня 2026 | квітня 2026 | травня 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів | 6 | 17 | 10 | 9 | 8 | 9 | 6 |
| Переглядів | |
|---|---|
| 881p.pdf | 125 |
| Переглядів | |
|---|---|
| United States | 200 |
| China | 34 |
| Germany | 21 |
| Україна | 16 |
| Sweden | 12 |
| Japan | 6 |
| Brazil | 5 |
| United Kingdom | 5 |
| Vietnam | 5 |
| Greece | 3 |
| Переглядів | |
|---|---|
| San Mateo | 26 |
| Ann Arbor | 16 |
| Fairfield | 13 |
| Ashburn | 10 |
| Dublin | 10 |
| Louisville | 10 |
| Redwood City | 10 |
| San Francisco | 10 |
| Boardman | 7 |
| San Ramon | 6 |