Skip navigation
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/2899
Назва: Метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шосткості поверхні
Автори: Безуглий, М. О.
Ботвинський, Д. В.
Зубарєв, В. В.
Коцур, Я. О.
Ключові слова: еліпсоїд обертання
шорстка поверхня
шорсткість
лазерне випромінювання
эллипсоид вращения
шероховатая поверхность
шероховатость
лазерное излучение
ellipsoid of revolution
rough surface
roughness
laser radiation
Дата публікації: 2011
Видавництво: ІФНТУНГ
Бібліографічний опис: Метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шосткості поверхні / М. О. Безуглий, Д. В. Ботвинський, В. В. Зубарєв, Я. О. Коцур // Методи та прилади контролю якості. - 2011. - № 27. - С. 77-82.
Короткий огляд (реферат): Розглянутий метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шорсткої поверхні. Проаналізовані особливості поширення оптичного випромінювання в еліпсоїді та вплив аберації кома на формування зображення. Обґрунтована конструкція та параметри дзеркального еліпсоїда обертання, що дозволило побудувати фотометричну головку, котра дозволяє реєструвати все відбите досліджуваним зразком оптичне випромінювання. Проведені характеристичні дослідження стальної та дюралюмінієвої шорстких поверхонь та окреслені основні напрямки для подальших досліджень.
Рассмотрен метод фотометрического зеркального эллипсоида вращения для исследования шероховатой поверхности. Проанализированы особенности распространения оптического излучения в эллипсоиде и влияние аберрации кома на формирование изображения. Обоснована конструкция и параметры зеркального эллипсоида вращения, что позволило построить фотометрическую головку, которая позволяет регистрировать все отраженное исследуемым образцом оптическое излучение. Проведены характеристические исследования стальной и дюралюминиевой шероховатых поверхностей и очерчены основные направления дальнейших исследований.
The method of photometric mirror ellipsoid of revolution is considered for research of rough surface. The features of distribution of optical radiation in an ellipsoid and influence of aberration of coma are analyzed on forming of image. A construction and parameters of mirror ellipsoid of revolution are reasonable, that allowed to build a photometric head that allows to register all reflected by the investigated standard optical radiation. Characteristic researches a
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/2899
ISSN: 1993-9981
Розташовується у зібраннях:Методи та прилади контролю якості - 2011 - № 27

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
2921p.pdf630.79 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики  Google Scholar


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.