Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3186
Название: Контроль температурного режиму електронно-променевої безтигельної зонної плавки кремнію
Авторы: Порєв, В. А.
Ключевые слова: контроль
температурний режим
кремній
безтигельна зона плавки
температура
вакуумна камера
світлоелектричний перетворювач
контроль
температурный режим
кремний
безтигельной зона плавки
температура
вакуумная камера
свитлоелектричний преобразователь
control
temperature control
silicon
beztyhelna zone melting temperature
vacuum chamber
svitloelektrychnyy converter
Дата публикации: 2013
Издательство: ІФНТУНГ
Библиографическое описание: Контроль температурного режиму електронно-променевої безтигельної зонної плавки кремнію / В. А. Порєв // Методи та прилади контролю якості. - 2013. - № 1. - С. 108-113.
Краткий осмотр (реферат): Обгрунтований новий метод компенсації систематичної похибки вимірювання температури, обумовленої відбитим від поверхні зони плавки випромінюванням електроду. Описаний алгоритм експериментальної оцінки перевищення температури поверхні рідкої фази над температурою плавлення кремнію. Представлено експериментально отримані криві розподілу яскравості вздовж вертикальної осі кристалу у сукупності послідовних кадрів.
Обоснованный новый метод компенсации систематической погрешности измерения температуры, обусловленной отраженным от поверхности зоны плавки излучением электрода. Описанный алгоритм экспериментальной оценки превышения температуры поверхности жидкой фазы над температурой плавления кремния. Представлены экспериментально полученные кривые распределения яркости вдоль вертикальной оси кристалла в совокупности последовательных кадров.
Justified new method to compensate for systematic errors in measuring the temperature of the surface caused by reflected radiation zone melting electrode. The algorithm experimental evaluation of the excess surface temperature of the liquid phase on the melting point of silicon. The experimental curves obtained brightness distribution along the vertical axis of the crystal together consecutive shots.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3186
ISSN: 1993-9981
Располагается в коллекциях:Методи та прилади контролю якості - 2013 - № 30

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
3332p.pdf498.87 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики  Google Scholar


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.