Skip navigation
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3186
Назва: Контроль температурного режиму електронно-променевої безтигельної зонної плавки кремнію
Автори: Порєв, В. А.
Ключові слова: контроль
температурний режим
кремній
безтигельна зона плавки
температура
вакуумна камера
світлоелектричний перетворювач
контроль
температурный режим
кремний
безтигельной зона плавки
температура
вакуумная камера
свитлоелектричний преобразователь
control
temperature control
silicon
beztyhelna zone melting temperature
vacuum chamber
svitloelektrychnyy converter
Дата публікації: 2013
Видавництво: ІФНТУНГ
Бібліографічний опис: Контроль температурного режиму електронно-променевої безтигельної зонної плавки кремнію / В. А. Порєв // Методи та прилади контролю якості. - 2013. - № 1. - С. 108-113.
Короткий огляд (реферат): Обгрунтований новий метод компенсації систематичної похибки вимірювання температури, обумовленої відбитим від поверхні зони плавки випромінюванням електроду. Описаний алгоритм експериментальної оцінки перевищення температури поверхні рідкої фази над температурою плавлення кремнію. Представлено експериментально отримані криві розподілу яскравості вздовж вертикальної осі кристалу у сукупності послідовних кадрів.
Обоснованный новый метод компенсации систематической погрешности измерения температуры, обусловленной отраженным от поверхности зоны плавки излучением электрода. Описанный алгоритм экспериментальной оценки превышения температуры поверхности жидкой фазы над температурой плавления кремния. Представлены экспериментально полученные кривые распределения яркости вдоль вертикальной оси кристалла в совокупности последовательных кадров.
Justified new method to compensate for systematic errors in measuring the temperature of the surface caused by reflected radiation zone melting electrode. The algorithm experimental evaluation of the excess surface temperature of the liquid phase on the melting point of silicon. The experimental curves obtained brightness distribution along the vertical axis of the crystal together consecutive shots.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3186
ISSN: 1993-9981
Розташовується у зібраннях:Методи та прилади контролю якості - 2013 - № 30

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
3332p.pdf498.87 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики  Google Scholar


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.